Dostawa układu do pomiaru temp. podłoży Si, GaAs, InP, GaSb, InAs oraz Ge, platformy sterującej oraz spektrometru pracującego w obszarze widma widzialnego i bliskiej podczerwieni

  • Numer postępowania DZP/ZP/2/IFPAN/2023/JRK
  • Typ postępowania Postępowanie krajowe
  • Tryb udzielania zamówienia Tryb podstawowy

    Ogłoszenie

    Rodzaj zamówienia:
    Dostawy
    Informacja:
    Tak
    Data składania ofert/opracowań studialnych:
    2023-02-07 10:00
    Data otwarcia ofert/opracowań studialnych:
    2023-02-07 10:30
    Publikacja w strefie publicznej:
    2023-01-27 14:26
    Termin zakończenia postępowania:
    2023-04-26 09:40

    Pierwotne dokumenty zamówienia

    Nazwa Opis Data publikacji Rozmiar pliku
    Dane kontaktowe 2023-01-27 14:26 -
    icon Ogłoszenie o zamówieniu.pdf 2023-01-27 14:26 128 KB
    icon SWZ-sig.pdf 2023-01-27 14:26 1.08 MB
    icon Załącznik nr 1 Opis Przedmiotu Zamowiena.pdf 2023-01-27 14:26 175 KB
    icon Załącznik nr 2 Oferta.doc 2023-01-27 14:26 186 KB
    icon Załącznik nr 3 A Formularz asortymentowo-cenowy.docx 2023-01-27 14:26 83 KB
    icon Załącznik nr 3 B Formularz asortymentowo-cenowy.docx 2023-01-27 14:26 84 KB
    icon Załącznik nr 4 Oświadczenie na podstawie art. 125 ust. 1 uPzp.docx 2023-01-27 14:26 79 KB
    icon Załącznik nr 5 Projekt umowy -wersja dwujęzyczna.pdf 2023-01-27 14:26 533 KB
    icon Zał. nr 3 do Umowy_Wzór Protokołu.pdf 2023-01-27 14:26 162 KB

    Zmiana dokumentów zamówienia

    Nazwa Opis Data publikacji Rozmiar pliku
    icon Ogłoszenie 2023/BZP 00122292/01.pdf 2023-04-26 09:40 -

    Dokumenty udostępnione

    Nazwa Opis Data publikacji Rozmiar pliku
    W górę
    icon Informacja z otwarcia ofert_07.02.2023-sig.pdf 2023-02-07 12:26 756 KB

    Klucz tooltipa:

    # PL:

    # EN:

    Wyszukiwarka

    Wyszukiwarka kodów

      Numer Nazwa